Уравнения и параметры режима малых сигналов
Отклонения токов и напряжений от их значений в рабочей точке, возникающие при отклонении входных величин в ее окрестностях, называют токами и напряжениями режима малых сигналов. По определению:
uбэ = Uбэ – UбэА, iб = Iб - IбА, uкэ = Uкэ – UкэА, iк = Iк – IкА.
При линеаризации нелинейные зависимости заменяются на линейные, при этом в качестве характеристик вблизи рабочей точки используются касательные к этим точкам. Другими словами в качестве параметров соответствующих вольт-амперных характеристик выступают те или иные частные производные. Уравнения, описывающие свойства биполярного транзистора в режиме малых сигналов, представляются в следующем виде:
, .
Крутизна S описывает изменение тока коллектора при изменении напряжения база–эмиттер в рабочей точке. Ее определяют по наклону касательной в семействе передаточных характеристик (см. рис. 2.3).
Величина крутизны указывает, насколько резко меняется ток коллектора iк в рабочей точке при изменении напряжения uбэ:
.
Входное сопротивление малосигнального режима rбэ показывает зависимость отклонений напряжения на участке база–эмиттер Uбэ от изменений тока базы Iб в рабочей точке и определяется величиной, обратной наклону касательной в семействе входных характеристик (см. рис. 2.4):
.
Выходное сопротивление малосигнального режима rкэ описывает отклонение напряжения на участке коллектор–эмиттер Uкэ от изменения тока коллектора Iк в рабочей точке. Оно определяется обратной величиной наклона касательной в семействе выходных характеристик (см. рис. 2.2):
.
Обратная проводимость Sn представляет зависимость изменения тока базы Iб от отклонения напряжения на участке коллектор-эмиттер Uкэ в рабочей точке и является пренебрежимо малой величиной
.
Параметры малосигнального режима находят также по семействам характеристик, для чего строят касательные в рабочей точке и определяют их наклоны (рис. 2.9). На практике этим приемом почти не пользуются из-за ограниченной точности отсчетов, к тому же в спецификациях транзисторов, как правило, не приводятся семейства характеристик.
Рис.2.9. Определение параметров транзистора по его характеристикам
Дата добавления: 2018-11-26; просмотров: 892;