Дефекты в кристаллах.

Тот правильный порядок в кристаллах, о котором говорилось ранее, существует лишь в очень малых объемах реальных кристаллов. В них обязательно присутствуют те или иные искажения, то есть отклонения от упорядоченного расположения в узлах решетки, которые называются дефектами. Дефекты делятся на макроскопические, возникающие в процессе образования и роста кристаллов (например, трещины, поры, инородные макроскопические включения), и микроскопические, обусловленные микроскопическими отклонениями от периодичности.

Микродефекты делятся на точечные и линейные. Точечные дефекты бывают трех типов (рис. 9.16):

1) вакансия – отсутствие атома в узле кристаллической решетки (рис. 9.16, a) (дефект по Шоттки);

2) междоузельный атом – атом, внедрившийся в междоузельное пространство (рис. 9.16, б) ( дефект по Френкелю);

3) примесный атом – атом примеси, либо замещающий атом основного вещества в кристаллической решетке (рис.9.16. в), либо внедрившийся в междоузельное пространство (примесь внедрения, рис. 9.16, б; только в междоузлии вместо атома основного вещества располагается атом примеси). Точечные дефекты нарушают лишь ближний порядок в кристаллах, не затрагивая дальнего порядка, – в этом состоит их характерная особенность.

Линейные дефекты нарушают дальний порядок. Как следует из опытов, механические свойства кристаллов в значительной степени определяются дефектами особого вида – дислокациями.Дислокации – линейные дефекты, нарушающие правильное чередование атомных плоскостей.

Дислокации бывают краевые и винтовые. Если одна из атомных плоскостей обрывается внутри кристалла, то край этой плоскости образует краевую дислокацию. В случае винтовой дислокации ни одна из атомных плоскостей внутри кристалла не обрывается, а сами плоскости лишь приблизительно параллельны и смыкаются друг с другом так, что фактически кристалл состоит из одной атомной плоскости, изогнутой по винтовой поверхности.

Плотность дислокаций (число дислокаций, приходящихся на единицу площади поверхности кристалла) для совершенных монокристаллов составляет 10²–10³см², для деформированных кристаллов – 10¹⁰ –10¹² см². Дислокации никогда не обрываются, они либо выходят на поверхность, либо разветвляются, поэтому в реальном кристалле образуются плоские или пространственные сетки дислокаций. Дислокации и их движение можно наблюдать с помощью электронного микроскопа, а также методом избирательного травления – в местах выхода дислокации на поверхность возникают ямки травления (интенсивное разрушение кристалла под действием реагента), «проявляющие» дислокации.

Наличие дефектов, особенно при внедрении атомов, приводит к изменению физических свойств, например электропроводности.