Дифракция рентгеновских лучей на кристалле

Кристалл является пространственной дифракционной решеткой с периодом , поэтому для наблюдения дифракционной картины используют излучение с длиной волны – это рентгеновские лучи ( ). Дифракционную картину образуют лучи 1 и 2, отраженные от атомных плоскостей кристалла (рис. 18). Оптическая разность хода этих лучей (см. треугольники на рис. 18).

Условие дифракционных максимумов (формула Вульфа – Брэггов):

. (18)

где – период кристаллической решетки (расстояние между атомными плоскостями); – угол скольжения, образованный падающим лучом и атомной плоскостью.

Рис. 18

Дифракция рентгеновских лучей позволяет осуществить два важных метода исследования. 1) Рентгеноструктурный анализ вещества: определение периода кристалла – фазовой характеристики металлического сплава (при известной , измеряя угол для -го дифракционного максимума).

2) Рентгеноспектральный анализ излучения: определение длины волны характеристического рентгеновского излучения, например, с целью анализа элементного состава вещества (горной породы, руды, сплава и др.).

Поляризация света

Поляризованной называют волну, в которой колебания светового вектора каким-либо образом упорядочены.