Статические характеристики биполярных транзисторов
Уравнения Эберса-Молла (5.40) могут быть использованы для анализа статического режима БТ и нахождения статических характеристик, так как эти уравнения достаточно хорошо отражают основные особенности БТ при любых сочетаниях напряжений на переходах. Однако надо иметь в виду, что для кремниевых БТ токи IКБО и IЭБО нельзя считать тепловыми, вызванными только концентрацией неосновных носителей в слоях, прилегающих к обедненному слою перехода. Необходимо также учитывать генерацию и рекомбинаций носителей в обедненном слое (см. § 3.5.1), В состоянии равновесия перехода генерационная и рекомбинационная составляющие уравновешиваются, а при обратном включении преобладает ток термогенерации. Кроме того, в кремниевом БТ при обратных напряжениях становится существенным ток утечки, связанный с поверхностными состояниями. Ток утечки зависит от напряжения (ширины перехода) и сравнительно мало от температуры. Существенно также, что уравнения Эберса-Молла не учитывают эффекта Эрли.
Мы не будем приводить идеализированных статических вольт-амперных характеристик, получаемых из уравнений Эберса-Молла. а рассмотрим реальные характеристики, отмечая попутно их отличия от идеализированных.
Обычно анализируют входные и выходные характеристики БТ в схемах с общей базой и общим эмиттером. Для определенности и преемственности изложения будем рассматривать p-n-p-транзистор.
Схема с общей базой
Семейство входных характеристик схемы с ОБ представляет собой зависимость IЭ = f(UЭБ) при фиксированных значениях параметра UКБ – напряжения на коллекторном переходе (рис. 5.13).
При UКБ = 0 характеристика подобна ВАХ р-n-перехода. С ростом обратного напряжения UКБ (UКБ < 0, для р-n-р-транзистора) вследствие уменьшения ширины базовой области (эффект Эрли) происходит смещение характеристики вверх; IЭ растет при выбранном значении UЭБ. Если поддерживается постоянным ток эмиттера (IЭ = const), т.е. градиент концентрации дырок в базовой области остается прежним, то необходимо понизить напряжение UЭБ, как показано на рис. 5.7 (характеристика сдвигается влево). Следует заметить, что при UКБ < 0 и UЭБ = 0 существует небольшой ток эмиттера, который становится равным нулю только при некотором обратном напряжении UЭБ .
Связь небольших приращений тока ∆IЭ и напряжения ∆UЭБ при UКБ = const в любой точке характеристики учитывается дифференциальным параметром, называемым входным сопротивлением:
(5.41)
Цифры в индексе означают, что оба приращения относятся к входной цепи, а буква указывает на схему включения с ОБ. Влияние изменения UКБ на IЭ учитывается дифференциальным параметром – коэффициентом обратной передачи:
(5.42)
Названия дифференциальных параметров взяты из теории четырехполюсников (см. § 5.4).
Семейство выходных характеристик схемы с ОБ представляет собой зависимости IК = f(UКБ) при заданных значениях параметра IЭ (рис. 5.13,6).
Выходная характеристика р-n-р-транзистора при IЭ = 0 и обратном напряжении (UКБ <0) подобна обратной ветви р-n-перехода (диода). При этом в соответствии с (5.11) IК = IКБО, т.е. характеристика представляет собой обратный ток коллекторного перехода, протекающий в цепи коллектор-база.
При IЭ > 0 основная часть инжектированных в базу носителей (дырок в р-n-р-транзисторе) доходит до границы коллекторного перехода и создает коллекторный ток при UКБ = 0 в результате ускоряющего действия контактной разности потенциалов. Ток можно уменьшить до нуля путем подачи на коллекторный переход прямого напряжения определенной величины. Этот случай соответствует режиму насыщения, когда существуют встречные потоки инжектированных дырок из эмиттера в базу и из коллектора в базу. Результирующий ток станет равен нулю, когда оба тока одинаковы по величине (например, точка А' на рис. 5.13,б). Чем больше заданный ток IЭ, тем большее прямое напряжение UКБ требуется для получения IК = 0.
Область в первом квадранте на рис. 5.13,б. где UКБ < 0 (обратное) и параметр IЭ > 0 (что означает прямое напряжение UЭБ) соответствует нормальному активному режиму (НАР). Значение коллекторного тока в НАР определяется формулой (5.11) IК = α IЭ + IКБО. Выходные характеристики смещаются вверх при увеличении параметра Iэ. В идеализированном транзисторе не учитывается эффект Эрли, поэтому интегральный коэффициент передачи тока а можно считать постоянным, не зависящим от значения UКБ. Следовательно, в идеализированном ВТ выходные характеристики оказываются горизонтальными (IК = const). Реально же эффект Эрли при росте | UКБ | приводит к уменьшению потерь на рекомбинацию и росту α. Так как значение α близко к единице, то относительное увеличение α очень мало и может быть обнаружено только измерениями. Поэтому отклонение выходных характеристик от горизонтальных линий вверх «на глаз» не заметно (на рис. 5.13,б не соблюден масштаб).
Наклон выходных характеристик, вызванный эффектом Эрли, учитывается дифференциальным параметрам – выходной проводимостью
(5.43)
Связь приращений коллекторного ∆IК и эмиттерного ∆IЭ токов характеризуется дифференциальным коэффициентом передачи тока эмиттера h21Б, который обычно мало отличается от интегрального коэффициента α:
(5.44)
5.3.2. Схема с общим эмиттером
Семейство входных характеристик схемы с ОЭ представляет собой зависимости IБ=f(UБЭ), причем параметром является напряжение UКЭ (рис. 5.14,а). Для р-n-р-транзистора отрицательное напряжение UБЭ (UБЭ < 0) означает прямое включение эмиттерного перехода так как UЭБ = – UБЭ > 0. Если при этом UКЭ = 0 (потенциалы коллектора и эмиттера одинаковы), то и коллекторный переход будет включен в прямом направлении: UКБ = UКЭ + UЭБ = UЭБ > 0. Поэтому входная характеристика при UКЭ = 0 будет соответствовать режиму насыщения (РН), а ток базы равным сумме базовых токов из-за одновременной инжекции дырок из эмиттера и коллектора. Этот ток, естественно, увеличивается с ростом прямого напряжения UЭБ. так как оно приводит к усилению инжекции в обоих переходах (UКБ = UЭБ) и соответствующему возрастанию потерь на рекомбинацию, определяющих базовый ток.
Вторая характеристика на рис. 5.14,б относится к нормальному активному режиму, для получения которого напряжение UКЭ должно быть в р-n-р-транзисторе отрицательным и по модулю превышать напряжение UЭБ (см. § 5.1.1). В этом случае UКБ = UКЭ + UЭБ = UКЭ – UБЭ < 0. Формально ход входной характеристики в НАР можно объяснить с помощью выражения (5.14) или (5.17); IБ = (1 – α)IЭ – IКБО. При малом напряжении UБЭ инжекция носителей практически отсутствует (IЭ = 0) и ток IБ = – IКБО, т.е. отрицателен. Увеличение прямого напряжения на эмиттерном переходе UЭБ = – UБЭ вызывает рост IЭ и величины (1 – α)IЭ. Когда (1 – α)IЭ = IКБО. Ток IБ = 0.
При дальнейшем росте UБЭ (1 – α)IЭ > IКБО и IБ меняет направление и становится положительным (IБ > 0) и сильно зависящим от напряжения перехода.
Влияние UКЭ на IБ в НАР можно объяснить тем, что рост | UКЭ | означает рост | UКБ | и, следовательно, уменьшение ширины базовой области (эффект Эрли). Последнее будет сопровождаться снижением потерь на рекомбинацию, т.е. уменьшением тока базы (смещение характеристики вниз).
Как и в схеме с ОБ, для входных характеристик используются дифференциальные параметры: входное сопротивление
(5.45)
коэффициент обратной передачи
(5.46)
Семейство выходных характеристик схемы с ОЭ представляет собой зависимости IК = f(UКЭ) при заданном параметре IБ (рис. 5.14,б).
Крутые начальные участки характеристик относятся к режиму насыщения, а участки с малым наклоном – к нормальному активному режиму. Переход от первого режима ко второму, как уже отмечалось, происходит при значениях | UКЭ |, превышающих | UБЭ |. На характеристиках в качестве параметра берется не напряжение UБЭ, а входной ток IБ. Поэтому о включении эмиттерного перехода приходится судить по значению тока IБ, который связан с входной характеристикой на рис. 5.14,а. Для увеличения IБ необходимо увеличивать | UБЭ | следовательно, и граница между режимом насыщения и нормальным активным режимом должна сдвигаться в сторону больших значений (точки В, В′, В").
Если параметр IБ = 0 («обрыв» базы), то в соответствии с (5.22) IК = IКЭО = (β + 1)IКБО. В схеме с ОЭ можно получить (как и в схеме с ОБ) I = IКБО, если задать отрицательный ток IБ = – IКБО. Выходная характеристика с параметром IБ = – IКБО может быть принята за границу между НАР и режимом отсечки (РО). Однако часто за эту границу условно принимают характеристику с параметром IБ = 0.
Связи приращений величин в семействе выходных характеристик представляются дифференциальными параметрами, подобными (5.43) и (5.44):
выходной проводимостью
(5.47)
дифференциальным коэффициентом передачи тока базы
(5.48)
Наклон выходных характеристик в нормальном активном режиме в схеме с общим эмиттером во много раз больше, чем в схеме с общей базой (h22Э ≈ βh22Б). Объясняется это различным проявлением эффекта Эрли (§ 5.1.3). В схеме с общим эмиттером увеличение UКЭ, а следовательно и UКБ сопровождается уменьшением тока базы, а он по определению выходной характеристики должен быть неизменным. Для восстановления тока базы приходится регулировкой напряжения UБЭ увеличивать ток эмиттера, а это вызывает прирост тока коллектора ∆IК, т.е. увеличение выходной проводимости h22Э (в схеме с ОБ ток IЭ при снятии выходной характеристики поддерживается неизменным).
5.3.3. Влияние температуры на статические характеристики БТ
Влияние температуры на положение входной характеристики схемы с ОБ при поддержании неизменным ее параметра аналогично ее влиянию на ВАХ полупроводникового диода. В нормальном активном режиме ток эмиттерного перехода можно представить формулой
IЭ ≈ IЭО(expUЭБ/φT – 1)
С ростом температуры тепловой ток IЭО растет быстрее, чем убывает экспонента из-за увеличения φТ = kT/q (см. § 3.4). В результате противоположного влияния двух факторов входные характеристики схемы с ОБ смещаются влево при выбранном токе IЭ на величину ∆U ≈ -(1..2) мВ/°С (рис. 5.15,a).
Начало входной характеристики в схеме с ОЭ определяется тепловым током коллекторного перехода IКБО. который сильно зависит от температуры, так что начало характеристики при увеличении температуры опускается (рис. 5.15,б).
Влияние температуры на выходные характеристики схем с ОБ и ОЭ в НАР удобно анализировать по формулам (5.11) и (5.22):
IK = α IЭ + IКБ0 и
Снятие выходных характеристик при различных температурах должно проводиться при поддержании постоянства параметров (IЭ = const в схеме с ОБ и IБ = const в схеме с ОЭ). Поэтому в схеме с ОБ при α = const рост IК будет определяться только увеличением IКБО при повышении температуры. Однако обычно IКБО значительно меньше αIЭ, изменение IК составляет проценты и его можно не учитывать (рис. 5.16,а). В схеме с ОЭ положение иное. Здесь параметром является IБ и его надо поддерживать неизменным при изменении температуры. Будем считать в первом приближении, что коэффициент передачи β не зависит от температуры. Постоянство βIБ означает, что температурная зависимость IК будет определяться слагаемым (β + 1)IКБО. Ток IКБО (как тепловой ток перехода) примерно удваивается при увеличении температуры на 10°C, и при β >> 1 прирост тока (β+1)IКБО может оказаться сравнимым с исходным значением коллекторного тока и даже превысить его.
На рис. 5.16,б показано большое смещение выходных характеристик вверх. Сильное влияние температуры на выходные характеристики в схеме с ОЭ может привести к потере работоспособности конкретных устройств, если не принять схемотехнические меры для стабилизации тока или термостатирование.
Дата добавления: 2016-06-29; просмотров: 4376;