Сенситометрические характеристики отечественных фотопленок типа ЛИТ

<28 29 303132 33 34 >

Фотографические характеристики	ФТ-101	ФТ-111	ФТ-112
ИП-3	Ф-1	ИП-3	ИП-3
Светочувствитель-ность, ед ГОСТ Плотность вуали Коэффициент контрастности Разрешающая спо- собность, лин/мм Максимальная плотность Предел сенсибилизации, нм Время проявления, мин	0,2-0,4 0,06 10,0 3,6 2-4	0,5 0,06 8,0 - - 2-4	1,5 0,06 10,0 3,6 2-4	4,0 0,06 10,0 3,6 2-4

а б

Рис. 152. Усиление незначительных различий в яркостях при съемке:

а – на контрастные; б – сверхконтрастные (типа ЛИТ) фотоматериалы

Например, для двух деталей, незначительно различающихся по яркости, при съемке на фотоматериалы с высоким контрастом можно так подобрать экспозицию, чтобы яркость одной из них совпадала с областью недодержек, а яркость другой – с прямолинейным участком характеристической кривой фотоматериала. В этом случае на изображении обеспечивается высокое различие в оптических плотностях, и чем выше контраст фотоматериала, тем большие различия можно получить. Наиболее эффективны при такой съемке фотоматериалы типа ЛИТ (ФТ-101, ФТ-111), у которых область недодержек минимальна.

Таблица 27

Проявители для фототехнических пленок

Компоненты, г/л	Инфекционные проявители
Д-85	Кодак	Кодак	Кодак	Кодак	ИП-3	ИП-3М
Сульфит натрия (б/в) Параформальдегид Натрий углекислый Борная кислота Гидрохинон Натрия метабисульфит Натрия бикарбонат Калий бромистый КФ-2698 Натрия бисульфит Формальдегид-бисульфит Этиленгликоль Едкий натр Полиэтилен- оксид ММ-1540	7,5 - 7,5 22,5 2,6 - 1,0 - - - - - -	- - 42,0 - 18,0 - - 2,0 - - - - -	- 3,7 17,5 - 13,6 2,4 - 2,5 - - - -	34,0 6,0 - 26,0 60,0 - - 0,15 - - - 100 мл - 0,02	2,0 - 36,0 18,0 12,0 - - 2,0 - - - - 12,0 -	37,5 7,5 50,0 7,5 22,5 - - 2,5 0,1 - - - - -	37,5 7,5 50,0 12,0 22,5 - - 2,5 0,1 - - - - -

Метод экспонометрической дискриминации помех применяют для ослабления помех, яркости которых больше или меньше, чем у полезных деталей. В первом случае (В_помех < В_пол.) выдержка при съемке должна быть меньше оптимальной, а во втором (В_помех > В_пол.) – съемку ведут при выдержке больше оптимальной. При этом помехи на изображении распределяются в области недодержек (передержек) и сливаются с фоном. При использовании данного метода для выявления незначительных различий в яркостях довольно сложно подобрать экспозицию так точно, чтобы яркость одной из деталей попала на прямолинейный участок характеристической кривой фотоматериала, а другая оказалась в области недодержек (передержек).