Выравнивающие проявители с обычными проявляющими веществми

Усиление (ослабление) незначительных различий в яркостях при съемке на контрастные фотоматериалы. При малом контрасте деталей, обусловленном незначительными различиями в яркостях, применяют съемку на контрастные фотоматериалы. При малом контрасте деталей, когда их яркости (В₁ и В₂) примерно равны, контраст изображения (К_из) связан с контрастом объекта (К_об) следующим соотношением:

,

где γ – коэффициент контрастности фотоматериала.

Эффективность метода определяет коэффициент контрастности фотоматериала и тип проявителя (контрастно работающего): чем меньше различия в яркостях, тем больший контраст деталей необходимо получить. На рис. 151 видно, что съемка на нормальный по контрасту фотоматериал (γ = 1) к изменению контраста изображения не приводит. Чем выше контраст фотоматериала, тем быстрее происходит усиление больших плотностей, нежели малых. Однако этот метод усиливает и помехи, на фоне которых полезные детали часто не различимы.

Высокая различаемость деталей достижима только на высоконтрастных фототехнических пленках. Для съемки применяют особококонтрастные фотоматериалы: ФТ-41, ФТ-51, ФТ-СК и сверхконтрастные типа ЛИТ: ФТ-101, ФТ-111 (табл. 26). Высокое усиление контраста дает и обработка фотоматериалов в контрастно работающих проявителях: гидрохиноновых Д-72, Д-163, гидрохиноновом с циклогексаном, хингидроновом. При обработке фотоматериалов типа ЛИТ высокий контраст обеспечивают проявители инфекционного типа: гидразиновый и особенно формальдегид бисульфитный (табл. 26).

Максимальное усиление контраста в немалой степени зависит от точного соблюдения экспозиционных условий, временного и температурного режимов обработки фотоматериалов. Фотографическая оптика должна обеспечивать максимальную резкость, а светочувствительные материалы быть свежими.

Экспонометрическая дискриминация помех – это метод съемки в особых условиях экспонирования с экспозицией, позволяющей вывести плотности помех на изображении за пределы прямолинейного участка характеристической кривой фотоматериала в области недодержек и передержек (рис. 152).

Таблица 26