Легирование поликремния
Поликремний может быть легирован тремя способами:
- Диффузия. Диффузия, являясь высокотемпературным процессом, приводит к очень низким значениям удельного сопротивления. В поликремнии диффузия легирующих атомов проходит быстрее, чем в монокристаллическом кремнии.
- Имплантация. Удельное сопротивление ионно-имплантированного поликремния в первую очередь зависит от дозы имплантации, температуры и времени отжига. Оно примерно на порядок превышает удельное сопротивление диффузионно легированного кремния, что объясняется разницей в концентрации примеси.
- Введение легирующих добавок в парогазовую смесь. Удельное сопротивление поликремния, легированного в процессе осаждения путем добавления в парогазовую смесь фосфина, арсина или диборана, сильно зависит от температуры осаждения, концентрации легирующих добавок и температуры отжига. Переход от высокого удельного сопротивления при низких температурах осаждения к низкому удельному сопротивлению при высоких температурах соответствует изменению структуры поликремния от аморфной к поликристаллической.
Двуокись кремния
Пленки двуокиси кремния могут осаждаться как с легирующими добавками, так и без них. Важнейший параметр при осаждении SiO2 - воспроизводимость рельефа.
|
Нелегированная двуокись кремния используется:
- в качестве изолирующей пленки между многоуровневой металлизацией,
- в качестве маскирующей пленки в процессах диффузии и ионной имплантации,
- как защитная пленка,
- для увеличения толщины подзатворного диэлектрика.
Легированные фосфором пленки окисла используются:
- в качестве изолятора между металлическими слоями,
- как пассивирующие покрытия на поверхности прибора,
- в качестве геттерирующих слоев.
Методы осаждения
Для формирования пленок двуокиси кремния используется несколько методов осаждения. Они характеризуются различными химическими реакциями, видом и используемого реактора и температурой процесса осаждения.
Пленки, осаждаемые при низких температурах (ниже 500 °С), формируются за счет реакции между силаном, легирующими добавками и кислородом:
SiH4 + O2 SiO2 +2H2
Cпособ осаждения | Плазмохи- мический | SiN4 + O2 | ТЭОС | SiCl2H2 + 2N2O |
Т, oC | ||||
Состав | SiO1.9 (H) | SiO2 (H) | SiO2 (H) | SiO2 (Cl) |
Воспроизведен. | неконформн. | неконформн. | конформн. | конформн. |
Термостабильн. | выделение Н | уплотнение | термостаб. | выделение Cl |
Плотность, г/cм-3 | 2.3 | 2.1 | 2.2 | 2.2 |
Коэффициент преломления | 1.47 | 1.44 | 1.46 | 1.46 |
Эл. прочность, 106 Вт/см | 3 - 6 | |||
Скорость травления (100), нм/мин |
Нитрид кремния
Стехиометричный Si3N4 используют для пассивирования поверхности полупроводниковых приборов (предохраняет от диффузии воды и ионов натрия, маска при локальном окислении кремния).
Химическое осаждение:
при атмосферном давлении и температуре 700 - 900 °C
3SiH4 + 4NH3 Si3N4 +12H2
при пониженном давлении и температуре 700 - 800 °C
3SiH2Cl2 + 4NH3 Si3N4 + 6HCl + 6H2
Свойства нитрида кремния:
аморфный диэлектрик
коэффициент преломления 2.01
высокие растягивающие напряжения 100 ГПа
удельное сопротивление 1016 Oм·см
плотность 2.9 - 3.1 г/см3
диэлектрическая постоянная 6-7
ширина запрещенной зоны 5 эВ
Дата добавления: 2020-11-18; просмотров: 382;