Погрешности измерительных приборов (стрелочных)

Случайные погрешности

Результат каждого отдельного измерения xi будет отличаться от истинного значения а. Разность между измеренным значением и истинным значением будет называться случайной погрешностью.

1.7

Xi – измеренное значение.

а – истинное значение

Истинное значение «а» всегда неизвестно и предсказать результат каждого отдельного измерения невозможно, поэтому при измерениях используют статистические закономерности большого числа измерений и закон, по которому происходит распределение случайных погрешностей в зависимости от их величины.

Ряды случайных ошибок равноточных измерений обладают следующими свойствами:

1. по абсолютной величине случайные ошибки не могут превосходить определённого (известного) предела.

2. Малые по абсолютной величине ошибки встречаются чаще, чем большие.

3. Положительные ошибки появляются так же часто, как и одинаковые с ними по абсолютной величине отрицательные.

4. Сумма случайных погрешностей стремится к нулю. . Большие ошибке реже мелких, вот что это значит.

Погрешности измерительных приборов (стрелочных)

Стрелочные измерительные приборы характеризуются номинальной относительной погрешностью.

1.8

- абсолютная погрешность измерения;

В – показание прибора при измерении величины х.

Приведённая относительная погрешность

1.9

- максимальная абсолютная погрешность по шкале прибора;

Впр – максимальное (последнее) значение шкалы прибора.

По величине приведённой относительной погрешности приборы делят по точности на 8 классов: 0,05; 0,1; 0,2; 0,5; 1; 1,5; 2,5; 4 (ГОСТ-1845-69). В соответствии с этим гостом каждое число определяет в процентах приведённую относительную погрешность.

Обычно абсолютная величина погрешности прибора по всей шкале примерно одинакова, поэтому номинальная относительная погрешность измерения тем больше , чем меньше наблюдаемый по шкале отсчёт. Следовательно, прибор для измерения следует выбирать так, чтобы ожидаемое показание находилось в последней трети его шкалы. Погрешность измерительного приборка складывается из основной, которая возникает при нормальных условиях работы прибора из-за конструктивных недостатков, старения ламп, полупроводниковых приборов, и дополнительных, обычно систематических, которые возникают из-за работы прибора в условиях, отличных от нормальных.