Экспериментальная установка.

В связи с тем, что сопротивление полупроводников и металлов сильно отличаются друг от друга, экспериментальная установка состоит из двух частей. Электрическая схема измерений для полупроводникового образца представлена на рис.6.

Рис.6. Схема установки для измерения электропроводности полупроводника.

Образец германия 1 имеет геометрические размеры: 20×10×1 мм³ . Он закреплен на подложке и укреплен в измерительном модуле. Модуль через вход АС (alternating current - переменный ток) на задней стороне напрямую соединяется с выходом 12 В источника 2. Напряжение измеряется мультиметром 3, который подключается через два нижних гнезда на передней стороне модуля. Температура и ток отображаются на дисплее 4 модуля. Режим индикации дисплея устанавливается с помощью кнопки «Display». Ток через образец не должен превышать 30 мА. Нагрев образца начинается и прекращается при нажатии на кнопку «on/off» на задней стороне модуля. Стабилизации температуры не предусмотрено.

Электрическая схема для измерений электропроводности металла приведена на рис.7.

Рис.7. Схема установки для измерения электропроводности металла.

Здесь 1 - образец меди размерами 28 мм × 25.5 мм ×18 мкм; 2 - источник постоянного тока, обеспечивающий ток до 20 А; 3 - милливольтметр; 4 - амперметр; 5 - вспомогательный проводник в форме меандра, протекание тока через который приводит к нагреву образца; 6 - источник переменного тока, обеспечивающий ток через меандр; 7 - термопара с измерителем температуры.