Керамических подложек
Процесс изготовления многослойной керамики состоит из сле-
дующих основных этапов:
- подготовки исходных материалов;
- приготовления сырых керамических лент;
- штамповки листов и пробивки отверстий;
- металлизации;
- формирования многослойной заготовки;
- спекания монолитной структуры.
Керамические ленты чаще всего получают методом холодного литья. В качестве материала основания, на котором формируется керамическая лента, можно рекомендовать: стекло, майлар, тефлон, сталь. Непосредственно после сушки трудно обеспечить заданную толщину и плотность ленты. Поэтому после литья ленты прокаты-
вают на валках. Для получения эластичных керамических лент применяют также
различные вспомогательные материалы: связующие, пластификато-
ры и дефлокулянты (поверхностно-активные вещества). Эластичная
керамическая лента представляет собой наполненную керамичес-
ким порошком структуру. Роль связующего полимера заключается
в том, чтобы придать порошку удобное для обработки состояние,
а также служить материалом для склеивания раздельно изготовленных листов в многослойную структуру и удерживать керами
ческий порошок в заданной форме до начала спекания. В качестве
связующего находят применение различные каучуки и полимеры,
которые при нагревании или под давлением способны полимери-
зоватъся, т. е. «склеиваться» на операции получения монолитной
пластины. Связующее растворяют в растворителе, затем добавляют
порошок. Суспензию тщательно перемешивают. При разливе сус-
пензии растворитель испаряется. Растворителем служат различные
легколетучие органические жидкости. Применение воды ограничено
из-за высокой температуры ее испарения, хотя вода является наи-
более дешевым растворителем, она не вызывает воспламенения и не
действует на здоровье работников.
Для улучшения технологических характеристик суспензия может
содержать кроме порошков, связующего и растворителя различные
пластификаторы и дефлокулянты. Они улучшают эластичность
ленты, препятствуют агрегации порошка и способствуют созданию
устойчивых коллоидных суспензий, улучшают смачиваемость
частиц порошка.
Керамические ленты напоминают по эластичности обработан-
ную кожу, клеенку. Они легко режутся, сверлятся и штампуются.
В зависимости от выбранного варианта технологии одновременно
штампуется одна или две группы отверстий для межслойных пере-
ходов и для совмещения необожженных листов при последующих
операциях. Необожженные листы метал- лизируют обычно методом трафаретной печати. К пастам для металлизации сырой керамики
предъявляются дополнительные требования: совместимость орга-
нических связок в пасте и в керамической ленте, одинаковая и син-
хронная усадка металла и керамики, чтобы свести к минимуму
внутренние напряжения в спеченном изделии. Формирование меж-
слойных переходов является узловой операцией в технологическом
процессе изготовления многослойных керамических подложек.
Сборка сырой многослойной заготовки состоит в том, что листы
со сформированными межслойными переходами и рисунком провод-
никовой коммутации укладывают согласно топологии в пакет и
спрессовывают. Под действием температуры и давления листы об-
paзуют монолитную сырую заготовку. Температуру и давление под-
бирают экспериментально для каждой выбранной связки.
Спекание структуры керамика - металл - органическое свя-
зующее требует применения управляемой газовой среды по темпе-
ратурным интервалам. Сначала в слабо окисленной среде (Н2
+ Н2О) вжигают связующее. Затем структуру спекают либо
в вакууме, либо в восстановительной среде. Материал подложки должен иметь максимальное удельное со
противление и минимальную величину диэлектрической -
проницаемости. При выборе материала для подложки обычно принимают во
внимание его теплопроводность и величину коэффициента линей-
ного расширения. Поскольку коэффициенты линейного расширения
кремния и большинства материалов многослойных керамических подложек не согласованы, хотя и близки, то приходится предусматривать специальные меры по снижению тепловых напряжений в конструкции полупроводник - подложка.
При проектировании гибридных БИС наблюдается тенденция использовать диэлектри-ческую подложку как элемент корпуса. Это связано со стремлением уменьшить массу, размеры и тепловое сопротивление конструкции. Поэтому при выборе материала учитывают не только его тепловые, но и механические свойства. Для изготовления многослойных подложек чаще всего применяют чистую окись алюминия или окись бериллия. Хотя окись бе
риллия имеет лучшую теплопроводность и хорошие механические
свойства, ее применение лимитируется токсичностью, высокой пористостью, а также высокой стоимостью (таблица 2.8) [15].
При выборе материала проводника учитывают его совместимость
с керамикой и электрическую проводимость. Совместимость пред
полагает выполнение следующих условий:
- температура плавления металла должна быть выше темпера
туры спекания керамики;
- коэффициенты линейного расширения и усадки должны быть
согласованы;
- прочность сцепления металла с керамикой должна быть
удовлетворительной.
Прочность сцепления металла с керамикой можно не принимать
во внимание, когда проводник расположен в теле керамики. Если
металлизирована наружная поверхность, и она служит для крепле
ния наружных выводов, которые несут значительные нагрузки, то этот вопрос становится принципиальным. Для улучшения прочности сцепления к металлу добавляют различные присадки, роль которых сводится к химическому взаимодействию с керамикой и металлом. Присадки, рекомендованные для металлизации спеченной керамики, не всегда можно использовать для совместного обжига металла и керамики тех же составов.
Таблица 2.8
Наименование параметра | Значения параметра | ||
А12О3. | Be2O3 | ||
Плотность монокристалла г/см3 | 3.99 | 3,02 | |
Температура плавления °С | |||
Теплопроводность для монокристалла, Вт/(м∙К) | 21,318 | 219.46 | |
Коэффициент линейного расширения в интервале 25…200 °C, 1/°C | 5,7×10-6 | 5,5×10-6 | |
Предел прочности при изгибе, кг/см | 2600- 4600 | 1600- 2600 | |
Удельное объемное сопротивление, Ом×см | 1016 | 1014 | |
Диэлектрическая проницаемость | 9,6…11,6 | 7,33 | |
Тангенс угла потерь | 2×10-4 | - | |
Пористость |
В процессе термообработки керамика и металл не должны химически взаимодействовать ни между собой, ни с окружающей средой, чтобы исключить потери материалов за счет испарения летучих соединений, а также избежать ухудшения конструктивных и электрофизических характеристик изделия. Для сохранения металлических свойств нанесенного слоя необходима восстановительная или нейтральная среда. Состав среды оценивают термодинамическим расчетом равновесия всех возможных химических реакций в системе керамика - металл - среда. После того как керамический материал выбран с учетом указанных условий, подбирают полупроводниковый материал. При этом следует иметь в виду, что объемное сопротивление спеченного металла может оказаться больше минимально достижимого (указанного в паспорте на пасту). Это объясняется тем, что завершенность процесса спекания определяется по состоянию керамики, в то время как металл еще имеет значительную пористость.
Учет перечисленных требований налагает жесткие ограничения на выбор системы керамика - металл и сужает номенклатуру применяемых материалов. Совместно с керамикой на основе окиси алюминия чаще всего применяют молибден или вольфрам. В настоящее время технология многослойной керамики широко внедрена в производстве керамических корпусов ИС и многослойных керамических подложек гибридных БИС. Высокая теплопроводность, механическая прочность и химическая стойкость спеченной окиси алюминия в широком диапазоне температур определяет высокую надежность конструкции. Относительно толстые изолирующие слои (100 мкм и более) обеспечивают незначительную паразитную связь и высокую электрическую прочность. Удельное поверхностное сопротивление проводников из тугоплавких металлов при толщине 10...15 мкм не превышает 0,03 Ом·см.
В зависимости от выбранного керамического материала наружный проводящий слой может быть сформирован как методами трафаретной печати, так и методами тонкопленочной технологии. В последнем случае на подложке можно получать в едином технологическом цикле резисторы и конденсаторы, т.е. всю пассивную часть ГИС. При проектировании многослойных керамических подложек следует учитывать ограничения, обусловленные современным уровнем технологии, приведенные в таблице 2.9.
Таблица 2.9
Наименование параметра | Значение параметра | |
возможное | Рекомендуемое | |
Ширина проводников минимальная, мм Расстояние между проводниками минимальное, мм Диаметр межслойных отверстий,мм Шаг между отверстиями минимальный, мм Толщина изолирующего слоя, мм Сопротивление проводников внутри слоя, Ом/ Размер подложки максимальный, мм % Допуск на толщину подложки, % Искривление на длине 50 мм, мм | 0,15 0,10 0,25 0,10 0,10 0,01 150´150 0,5% 0,05 | 0,15 0,05 0,10 0,25 0,05 0,80 0,35 0,03 50´50 1% 0,1 |
Дата добавления: 2020-10-14; просмотров: 450;