Магнитный дефектоскоп высокого и сверхвысокого разрешения с поперечным намагничиванием (TFI)
Кроме всемирно известной технологии утечки магнитного потока продольного намагничивания (MFL) активно применяется технология поперечного намагничивания (TFI), которая является решением проблемы обнаружения продольных трещин в стенке трубы.
В отличие от дефектоскопов с продольным намагничиванием (MFL) дефектоскопы, построенные по технологии TFI, обнаруживают узкие продольно ориентированные дефекты, включая трещины в продольных сварных швах, продольную внешнюю коррозию, вызванную отслоением покрытия, а также такие непредсказуемые и, таким образом, критичные сочетания дефектов, как "продольная риска во вмятине".
Надежное обнаружение продольно ориентированных дефектов может быть обеспечено только в том случае, если намагничивание трубопровода производится в направлении перпендикулярном плоскости расположения дефектов.
Для реализации этого принципа была разработана магнитная система, которая позволяет намагничивать трубопровод в поперечном по отношению к продольной оси направлении.
Магнитная система содержит несколько секторов, образованных постоянными магнитами и гибкими проволочными щетками. В промежутках между щетками расположены датчики для измерения магнитной индукции.
Рисунок 7 - Принцип поперечного намагничивания трубопровода и регистрации сигналов датчиками типа I (TFI)
На рисунке 7 изображен принцип работы датчиков типа I:
1) в стенке трубы создается магнитное поле высокой напряженности;
2) силовые линии магнитного поля будут отклоняться, если на наружной или внутренней поверхности трубы есть потеря металла;
3) датчики типа I регистрируют изменение индукции магнитного поля вызванное наличием потери металла или другой аномалией.
Технология TFI, а также высокие требования к точности определения размеров дефектов потребовали применения датчиков сверхвысокого разрешения.
3. Комбинированный магнитный дефектоскоп сверхвысокого разрешения с продольным и поперечным намагничиванием.
Технология комбинированной магнитной диагностики сочетает в себе преимущества технологии, как продольного, так и поперечного намагничивания. Дефектоскопы, построенные по этой технологии (сверхвысокого разрешения), осуществляют намагничивание трубопровода в продольном и поперечном направлениях. Дефектоскоп способен за один прогон собрать всю информацию о дефектах тела трубы и сварных швов вне зависимости от их ориентации.
Задачей комбинированного магнитного дефектоскопа является обнаружение за один пропуск дефектов ориентированных как в продольном, так и в поперечном направлении. Для этого дефектоскоп оснащен магнитными системами для последовательного намагничивания трубопровода в продольном и в поперечном направлении. Каждая магнитная система содержит постоянные магниты и гибкие проволочные щетки. В промежутках между щетками расположены датчики для измерения магнитной индукции. Все датчики имеют сверхвысокое разрешение. Это обусловлено особенностями комбинированной магнитной диагностики, а также высокими требованиями к точности определения размеров дефектов.
Дата добавления: 2017-01-08; просмотров: 4454;