Фотографирование рельефа следов

Фотографическое изображение передает информацию о рельефе трехмерного объекта соответствующим распределением светотени на плоскости. По нему, однако, невозможно составить представление об истинных геометрических параметрах запечатленных деталей. Равные по высоте, но разные по форме элементы рельефа в виде острых выступов или цилиндрических наплывов при одностороннем освещении могут создавать на пленке одинаковые соотношения плотностей. Поэтому часть полезной информации утрачивается из-за несовершенства фотографической аппаратуры и методов съемки, в частности на участках недодержек и передержек. Однако при трасологических исследованиях изучение формы и размеров отдельных деталей имеет важное значение.

Количественные характеристики рельефа объекта, формы и размеров его отдельных частей в определенных плоскостях (сечениях) дает метод профилирования. Изображение рельефа, получаемое в виде кривой на плоскости, называется профилограммой. В судебной экспертизе широко распространены методы оптического и фотоэлектрического изучения срезов полимерных копий, светового сечения профиля и его теневой проекции.

Наиболее прост метод получения профилограмм с помощью полимерных копий (реплик). Копии рельефа получают посредством нанесения полимерных материалов на поверхность объекта. Используются смеси силиконовых паст с катализатором, например «Виксинт К-18», воспроизводящие рельеф исследуемой поверхности с точностью до 0,001 мм. После полимеризации реплику отделяют от поверхности и рассекают на срезы толщиной 0,3-0,6 мм для получения профилей. Для динамических следов срезы делают перпендикулярно направлению движения следообразующего объекта. Срезы накладывают на влажную поверхность отфиксированного эмульсионного слоя фотопластинки, на которой они после высыхания закрепляются. Увеличенное изображение профиля следа получают при проекционной печати, либо в проходящем свете на макро- или микрофотографических установках ФМН-2 и «Уларус».

Фотоэлектрический метод изучения срезов полимерных копий основан на измерении плотностей почернения полученных изображений с помощью микрофотометров и других фотоэлектрических приборов.

Метод светового сечения профиля позволяет получать профилограммы с самого объекта, а не с его копии. Прибор для получения светового сечения профиля (рис. 182) состоит из осветительной системы, узла установки объекта и фотокамеры. Исследуемый объект закрепляют таким образом, чтобы его поверхность располагалась под углом 60° к оптической оси фотокамеры. Для освещения используют световую полосу шириной около 0,1 мм, направляемую под тем же углом. Из светового потока источника ее выделяют с помощью специальной щелевой диафрагмы и проецируют на фотографируемый участок посредством дополнительной линзы микроосветителя. Искривляясь на элементах рельефа, световая полоса дает представление о его форме, а увеличенное изображение профилограммы создают приборы для макро- и микросъемки.

Рис. 182. Схема получения профиля Рис. 183. Схема получения профиля

следов методом светового сечения следов методом теневой проекции

1 – фотокамера; 2 – щелевая диафрагма; 1 – фотокамера; 2 – осветитель;

3 – осветитель; 4 – объект; 3 – нож; 4 – объект;

5 – подставка для объекта; 5 – подставка для объекта

6 – профилограмма

Метод теневой проекции профиля является разновидностью предыдущего метода. Схема установки для его осуществления показана на рис. 183. По отношению к базовой она включает в себя узел установки микротомного ножа, который размещают на исследуемом участке перпендикулярно направлению трасс на высоте не более 1 мм. Свет от источника проходит через щелевую диафрагму, изображение которой проецируется линзой микроосветителя на кромку ножа, образуя теневую проекцию, соответствующую неровностям рельефа. Для изучения рельефа объекта методом теневой проекции профиля предназначены специальные микроскопы типов МТ, ТСП-4, приборы ФМН-2, МБС-2, МС-51, которые кроме фотокамеры включают специальную осветительную систему, узлы установки объекта и микротомного ножа.